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痕量检测我们可以用哪种分析仪器

发布时间:2022-09-02 09:13:04         点击:151

       对于痕量检测,你了解多少?痕量检测(trace analysis),是一种对样品中待测组分含量低于百万分之一的分析方法。适合进行痕量检测的仪器都有哪些?

       目前,用于痕量物质检测的仪器主要有原子吸收分析仪(AAS)、石墨炉原子吸收分析仪(GF-AAS)、电感耦合高频等离子体发射光谱仪(ICP-AES)、电感耦合高频等离子质谱仪( ICP-MS)、波长色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射线荧光光谱分析仪。可做痕量检测的以上几种仪器,在分析痕量物质时也有各自的优势,一般单位会根据自己需求进行选择。

       AAS分析仪使用成本低,对专业技术要求低,光谱干扰少。但人工调试项目多,当基体成分复杂时,测试精度低。GF-AAS分析仪常规工作可无人自动操作,光谱干扰少,基体干扰多,样品需能完全气化。ICP-AES分析能力强,溶液分析精度高,基体干扰少,可测元素多,但该仪器只能检测溶液。ICP-MS仪测试精度高,分析能力较前者更强,能进行同位素分析,样品也需制成溶液。ICP仪都能进行半定量分析,但当测试高浓度物质时需稀释溶液,再折算到原样品浓度的含量,ICP的测试误差被同时放大,这大大降低了测试精度。但对于工厂的大规模生产而言,以上这些仪器因为制样周期长,并不适合。

X荧光光谱仪与ICP光谱仪

X荧光光谱仪与ICP光谱仪

       WDXRF 和EDXRF仪测试精度较ICP低一些,分析能力较ICP强一些,但它可直接对块状、液体、粉末样品进行测试,亦可对小区域进行分析,还可分析镀层和薄膜,样品制备简单,分析时间短,分析精度能满足工厂生产的需要,很合适工厂大规模生产。它的弱点是存在光谱干扰,特别是样品中同时存在光谱干扰的几个元素时,XRF就很难辩别这几个元素。

       痕量检测作为地球化学、材料科学、生物医学、环境科学、表面科学以及罪证分析等领域重要的检测方法,根据自身实际需求,选择合适的检测仪器。
 

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